전자현미경실

치의학 기초 및 임상분야의 연구와 연구지원업무를 수행합니다.

전자현미경

Academic Calendar
기기명(국문) 투과전자현미경 투과전자현미경의 사진
기기명(영문) Transmission electron microscopy
제조사 JEOL/JP
모델명 JEM-1400 Flash
설치장소 본관동 129호
담당자 김효정
용도 및 원리 JEM-1400Flash 투과전자현미경의 주요 용도 및 원리는 다음과 같다.
- Transmission electron microscopy (TEM): 얇은 두께의 생체 및 재료 시료의 초미세 투과 구조 관찰
- Scanning transmission electron microscopy (STEM): 미세 전자빔을 주사하여 고분해능의 주사전자 이미지 관찰
- STEM-High angle annular dark field imaging (STEM-HAADF): 얇은 두께 재료 시료의 고각도 암시야 이미지 관찰
- Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS): 에너지분산형 분광분석법에 의한 초미세 영역에서의 원소 함유량 및 분포 분석
- 고해상도 Tomography: 얇은 두께 생물시료의 3D 재구성




투과전자현미경 사용을 원하시는 실험 의뢰자 분께서는
02)740-8626로 연락주세요.
주요성능 ∙ Resolution : 0.14nm (TEM) / 2.0nm (STEM)
∙ Magnification : ×300 to ×1,500,000(Mag) / ×10 to ×1,000(Low Mag)
∙ Accelerating voltage : 10 to 120 kV
∙ Vacuum system : TMP
∙ Maximum number of samples to load : 4
∙ EDS
∙ 3D Temography (Max. tilt angle : ±70°)