전자현미경

JEM-1400Flash 투과전자현미경의 주요 용도 및 원리는 다음과 같다.
- Transmission electron microscopy (TEM): 얇은 두께의 생체 및 재료 시료의 초미세 투과 구조 관찰
- Scanning transmission electron microscopy (STEM): 미세 전자빔을 주사하여 고분해능의 주사전자 이미지 관찰
- STEM-High angle annular dark field imaging (STEM-HAADF): 얇은 두께 재료 시료의 고각도 암시야 이미지 관찰
- Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS): 에너지분산형 분광분석법에 의한 초미세 영역에서의 원소 함유량 및 분포 분석
- 고해상도 Tomography: 얇은 두께 생물시료의 3D 재구성




투과전자현미경 사용을 원하시는 실험 의뢰자 분께서는
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∙ Resolution : 0.14nm (TEM) / 2.0nm (STEM)
∙ Magnification : ×300 to ×1,500,000(Mag) / ×10 to ×1,000(Low Mag)
∙ Accelerating voltage : 10 to 120 kV
∙ Vacuum system : TMP
∙ Maximum number of samples to load : 4
∙ EDS
∙ 3D Temography (Max. tilt angle : ±70°)