전자현미경

FE-SEM Apreo S 전계방출형 주사전자현미경의 주요 용도 및 원리는 다음과 같다.

- Field emission scansmission electron microscopy (FE-SEM): 재료 및 생물 시료 표면의 초미세구조 관찰

- Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS): 에너지분산형 분광분석법에 의한 시료 표면 미세 영역의 원소 함유량 및 분포 분석

주사전자현미경 사용을 원하시는 실험 의뢰자 분께서는
02)740-8705로 연락주세요.

∙ Resolution :
High vacuum - 0.7nm at 15kV /1.8nm at 0.1kV(beam decel.)
Low vacuum - 1.0nm at 15kV/1.8nm at 3kV
∙ Magnification : ×30 to ×500,000
∙ Accelerating voltage : 0.5 to 30 kV
∙ Lens : combined electrostatic, field-free magnetic and immersion magnetic objective lens
∙ Tilt : -15˚ to +90˚